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智能化的半导体器件分析测试系统

2003年 应用技术
  • 成果简介
出于对研制开发新型半导体器件的需要，同时也为了发展中国自已的智能化测试仪器，该项目首先利用几种微机扩展卡及附加外围控制电路，实现对各测量模块的协调控制，进而完成对测试数据的动态采样和实时处理。在此基础上，该项目将几种功能模块设计成符合国际潮流的计算机卡式测试仪器(PCCI)，即半导体器件特性分析测试卡，该卡与其控制软件(支持系统)组成智能化半导体器件分析测试系统。性能特点：智能化的半导体器件分析测...
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