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ADC、DAC静态特性测量标准

2000年

应用技术

成果简介

该成果采用组合放大器和组合DAC的方法构成24bits标准DAC，总体方案上采用实时自校技术，实现了实时自校和实时补偿修正，从而提高了系统的分辨率和测量的精度，并且有较快的测量速度，可实现全码测量。该标准与美国NiST同类装置的性能指标相当。可用于国产和进口的ADC、DAC芯片和模块的性能检测；对中高档集成电路测试仪器和系统进行校验、索赔检定；可作为技术手段用于开发高性能的ADC、DAC混合模块和...

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