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X荧光分析技术对结壳品位快速测试研究

2005年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
“X荧光分析技术对结壳品位快速测试研究”是大洋矿产资源研究与开发协会“十五”国际海底区域研究开发技术发展项目(DY105-03)下属子项目深海资源勘查技术(DY105-03-01)中的一个课题,立项申请经专家评审意见的的基础上形成的。课题合同编号:DY105-03-01-11,研究期限二年(2003.01月~2004.12月)。
技术原理和性能指标:
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