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扫描隧道显微镜

1999年 应用技术
  • 成果简介
扫描隧道显微镜(STM)是80年代初发展起来的一种新显微镜和表面分析、微细加 工工具。STM被列为80年代世界十大科技成就之一。主要用于观察导体和半导体的表面形貌,在三维空间可达到原子量级的分辩能力。重庆大学是国内最早从事STM研究和开发的少数 几个单位之一。自行设计研制出的计算机化的STM已获得国家专利。该机具有结构紧凑、工作稳定、经济效益显著等特点。其分辨率为:横向0.1nm,纵向0.01nm...

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