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扫描隧道显微镜（STM）

2004年 应用技术
  • 成果简介
主要用于观察导体和半导体的表面形貌，在三维空间可达到原子量级的分辨能力。该机具有结构紧凑、工作稳定、经济效益显著等特点，已获国家专利。其分辨率为：横向0.1nm，纵向0.01nm；扫描范围：≥1um（可根据需要扩大扫描范围）。其相关技术被广泛用于物理学、化学、冶金学等诸多学科领域。...
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