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SRAM辐射效应测试系统

2006年

应用技术

成熟应用阶段

成果简介

　　“SRAM辐射效应测试系统”主要针对在航天飞行器中应用较多的HM-65162、IDT71256、HM6116等SRAM芯片提供一个进行辐射效应研究的平台。通过该平台能够在实验室的模拟辐射环境下，如重粒子加速器、锎源、激光等实验环境中对SRAM空间辐射效应的机理、SRAM加固技术等进行研究。为卫星用SRAM的选型，对其进行加固，以及人们对SRAM工作机理更深入的研究提供必要的科学依据。 ...

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