首页成果登记
注册 找回密码
国家科技成果网
  		•
热门搜索：  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

登记 排行 政策 对接 转化 专栏
国家科技成果网 › 首页 ›成果 › 查看内容

光栅表面质量无损检测方法和装置

2006年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
一种光栅表面质量无损检测方法和装置，其核心主要是采用平行光照明待测光栅时，在该光栅的整数泰伯距处形成光栅的泰伯像，然后用纳米光纤探针扫描该泰伯像，并将探测的光信号转变成电信号，再由计算机进行数据处理，即可获得该光栅的周期、均匀性、直线度和整体均匀性等参数，本发明的方法将会成为高密度光栅表面质量检测的一种有用新方法，具有重要的学术价值和应用前景。...
相关成果

标签云

相关机构

关于国科网   我们的资源   我们的服务   免责声明   常见问题    软件下载    成果登记   联系我们  
Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位：科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统