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超微粉体粒度检测方法的研究

2006年 应用技术  初期阶段
  • 成果简介
本项目通过优化分散条件和测试条件，结合光透射检测，使离心沉降法不仅可以运用在普通粉体的粒度测试上，而且能运用于超微粉体，包括纳米粉体，的粒度测试上，实际测试结果D50值可达100nm以下，在以往的离心沉降法测试粉体粒度中是没有的，方法重复性好，并具有较高的可靠性。可运用于超微粉体生产过程监控、产品质量检测等方面。...
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