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4X密度磁光盘光学特性测试系统

1998年 应用技术
  • 成果简介
该测试系统能够精确地测试4X密度磁光盘的成品盘预格式信息，跨道信号，推挽信号和反射率等特性，满足国内高密度磁光盘生产过程中光学特性测试、质量控制的要求。该系统测试磁光盘光学特性的各种电信号，频谱覆盖024MHz，同步时钟最高可达近50MHz，系统测试精度＜5%，重复性＜5%。该测试系统以虚拟仪器的结构为基础进行整体设计，包括微机、磁光盘驱动平台和数据采集卡三个部分。
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