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钨产品中杂质元素的光谱分析方法研究

1998年 应用技术
  • 成果简介
　　该成果系统地研究了钨产品中杂质元素的原子光谱分析方法。建立了用ICP-AES直接测定A1、As、Cs、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Mg、Mn、Mo、Ni、Sn、Ti、V等元素的含量；用CFAAS直接测定As、Sn、Bi、pb和Sb等元素的含量，以及必要时用活性氧化铝分离富集，用ICP-AES测定含量更低的A、Bi、pb、Sb、Sn、Ca、C、Co、Cr、Fe和Ni等元素的配套检测方法。该方法...
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