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发光材料GaP中杂质缺陷光电性质研究

1993年 应用技术
  • 成果简介
该项成果主要内容包括:
1.用DLTS和光电容技术等测量电子辐照GaP产生的深能级缺陷,给出多种缺陷的可能形态,证实辐照缺陷的无辐射复合中心作用。
2.探索了GaP中缺陷的成因,证实它们是无辐射复合中心,严重影响器件的发光性能。
3.用正电子湮没技术研究GaP中缺陷及热处理行为,探索缺陷的荷电态及运动规律,研究其对材料光电特性的影...
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