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基于IEEE1500标准兼容SRAM/ROM的MBIST控制器结构系统

2016年

应用技术

初期阶段

成果简介

　　本发明公开了一种基于IEEE 1500 且兼容嵌入式SRAM 和ROM 存储器测试的测试结构及测试方法，该测试结构结合了嵌入式核测试标准IEEE 1500 和内建自测试（BIST）的方法，该测试结构支持对多个不同种类的嵌入式SRAM 和ROM 进行内建自测试。该结构由嵌入式SRAM 和ROM 的测试壳封装与MBIST 控制器两部分构成。测试封装壳解决了嵌入式SRAM 和ROM 的测试访问、测试...

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