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基于三维结构的SoC低功耗测试技术研究

2016年 基础理论
  • 成果简介
　　随着超大规模集成电路集成度和复杂度的提高，尤其是半导体器件进入纳米时代，测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗，测试功耗已经成为影响芯片设计的重要因素，芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点。目前已经有很多国内外研究机构、高校，比如：中国科学院计算技术研究所、清华大学、北京大学、美国Stanford 大学、Duke大学等都已经开展了低功耗测试方法的研究工作，并提...
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