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LED未切割圆片全自动测试探针台

2015年

应用技术

成熟应用阶段

成果简介

LED未切割晶圆片全自动测试探针台项目是基于公司现有的探针台技术基础，自主研发与之配套的未切割Wafer的全自动测试系统，采用公司成熟的主机及上下片技术，二者组合在一起而形成的标准化测试测量设备。LED未切割晶圆片全自动测试探针台专门针对LED工艺流程“外延-芯片-封装-应用”中的“芯片”这一部分，用来测试未切割LED硅片，或4吋扩张蓝膜半自动测试，是LED测试的专用设备。
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