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一种基于串扰时延故障模型的时延故障测试系统v1.0

2017年 应用技术  初期阶段
  • 成果简介
　　随着半导体工艺特征尺寸的不断缩小和芯片运行速率的不断提高，电路中串扰引起时延故障越来越受到关注，为了确保系统在特定的时钟周期内完成所需的信号变化，串扰时延故障测试具有非常重要的作用。对串扰故障测试产生技术的研究主要停留在串扰尖峰脉冲上，直到最近几年，才开始致力于对串扰时延故障测试产生技术的研究。串扰噪声的时延测试已经成为—个不可忽视的问题，尤其是临界通路上的线间串扰问题，将严重降低芯片的性能。...
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