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毫米波全息安检成像芯片与系统关键技术研究

2017年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
　　中科院上海微系统与信息技术研究所首先研究和开发毫米波安检成像系统专用成像芯片，具备宽工作带宽，低增益平坦度，低噪声低插损等优点，相关技术指标优于国外同类芯片，达到国际先进水平。所有毫米波安检成像系统专用成像芯片都具备完全自主知识产权，目前实现批量供货生产。所有芯片均经过第三方机构的电性能和可靠性测试，芯片平均无故障间隔时间超过10万小时，已经大量应用在毫米波全息安检成像系统中，起到了不可替代的...
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