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一种测量光学器件相位延迟角度的方法

2014年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
本发明公开了一种测量光学器件相位延迟角度的方法，该检测装置由检测光源、起偏偏振片、1/4波片、待检光学器件、偏振光方位角探测组件组成，通过测量检测光源通过待测相位延迟器件前后的状态变化，从而获知待测器件的相位延迟角度。它适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法的原理描述如下：长轴处于水平或竖直方向的椭圆偏振光通过不同相位延迟角度的光学器件时，其透射...
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