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有机半导体器件特性测试系统的研制

2013年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
有机半导体器件的研究已非常广泛，对于其特征曲线的测量，目前大多使用原有针对无机半导体器件而设计的测试系统。与无机半导体器件相比，有机半导体器件不仅工作电压高，而且由于工作机制更复杂而使参数种类更多。目前，国产的晶体管特性图示仪，精度低，通常用于测试大功率器件，并且不能直接导出数据到计算机，因此国内众多科研院所与电子类企业长期依赖于国外半导体测试系统。但是，国外半导体器件测试系统价格昂贵，以...
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