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大容量存储器集成电路的测试

2005年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
集成电路测试项目是根据目前集成电路的发展趋势，研究开发大容量存储器集成电路SDRAM和flash RAM 的测试，该项目的特点是根据大容量存储器集成电路的结构，创新测试技术和测试设备，以低成本、高效率准确地实现大容量存储器集成电路的测试，并能进行生产性的大批量芯片中测和成品测试。大容量存储器集成电路的广泛应用对电路的测试要求越来越强烈，但由于目前能大批量对高兆位存储器电路测试的设备非常昂贵...
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