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位错与微裂纹的纳米尺度定量分析

2012年 基础理论
  • 成果简介
　　使用高分辨透射电子显微镜作为研究工具，采用几何相位分析和数值云纹作为电子显微图像分析方法，在纳米至原子尺度对金、铝、硅、锗等固体材料中的位错与微裂纹等结构缺陷周围的变形场进行了定量测量，对位错与裂纹的相关理论预测进行了实验验证。对位错的研究结果表明：当远离位错芯（大于7.5nm）时，弹性理论位错模型、Peierls-Nabarro位错模型和Foreman位错模型等都可以描述位错周围的位移场和应...
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