首页成果登记
注册 找回密码
国家科技成果网
  		•
热门搜索：  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

登记 排行 政策 对接 转化 专栏
国家科技成果网 › 首页 ›成果 › 查看内容

片上系统测试架构设计与优化：针对噪声引起的测试良产率下降的研究

2012年 应用技术  中期阶段
  • 成果简介
围绕着电源噪声情况下系统芯片如何测试这一核心问题，开展了研究工作：
(1)在“多核电源噪声的建模和分析、测试感知、调度等系列方法”上，取得了突破：提出了针对SOC多核环境下，多核核间电源噪声的傅里叶分析方法，解决了电源噪声的甄别和定源的问题，为后续测试和可靠设计打下了基础；提出了将电源噪声转化为时延测试的测试方法，解决了电源噪声的测试问题；提出了利用线程迁移的方法来解决...
相关成果

标签云

相关机构

关于国科网   我们的资源   我们的服务   免责声明   常见问题    软件下载    成果登记   联系我们  
Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位：科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统