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数字芯片测试技术研究

2011年

基础理论

成果简介

本科技成果属于电子信息研究领域。成果重点研究了数字系统芯片的内建自测试、外建自测试、测试数据压缩、时延测试、低功耗测试以及芯片的高可靠性设计等问题，是国家自然科学基金委重大研究计划“半导体集成化芯片系统基础研究”中五个关键的研究方向之一。
本成果先后获得了国家基金委、科技部、教育部以及安徽省等多个省级以上基金的支持。
本成果主要包括以及几个方面的内容...

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