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在绝缘体上硅的硅片上纳米宽度谐振结构及其制作方法

2010年 应用技术  中期阶段
  • 成果简介
本发明涉及一种在SOI硅片上纳米宽度谐振结构及制作方法,其特征在于巧妙利用了(110)晶向硅片的各向异性湿法腐蚀特性,通过精确控制光刻掩模图形与(112)晶向间夹角,利用各向异性湿法腐蚀会自动校准晶向、同时结合腐蚀液对(111)晶面的低速腐蚀减小宽度,在(110)绝缘体上硅的硅片上制作出宽度小于光刻最小线宽、侧壁为(111)晶面的纳米梁结构,通过浓硼自终止技术很好地控制锚点和驱动电极的形貌...
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