首页成果登记
注册 找回密码
国家科技成果网
  		•
热门搜索：  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

登记 排行 政策 对接 转化 专栏
国家科技成果网 › 首页 ›成果 › 查看内容

基于自测试自诊断自修复原理的高性能处理芯片可靠性设计

2010年 基础理论
  • 成果简介
本成果是基于自测试/自诊断/自修复（3S）原理实现缺陷容忍和故障容忍，通过体系结构级的容错技术实现差错容忍，提高微处理器芯片的成品率和提高万亿次级高效能处理器TGAP运行时的可靠性。具体包括：
1）在缺陷容忍方面，深入研究了基于自测试/自诊断/自修复（3S）原理的处理器测试、诊断和修复方法，创新性地提出了协同优化测试功耗和测试数据量的低功耗测试方法、面向任意故障模型和复...
相关成果

标签云

相关机构

关于国科网   我们的资源   我们的服务   免责声明   常见问题    软件下载    成果登记   联系我们  
Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位：科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统