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半导体激光器与普通半导体器件的老化筛选与寿命测试比较研究

2009年 应用技术  初期阶段
  • 成果简介
　　该课题在对普通半导体可靠性研究基础上，重点对半导体激光器的可靠性理论、老化筛选理论和技术、预期寿命测试技术进行深入研究，并建立相应的数学模型及测试系统框架。提出LD可靠性的数学模型、长期寿命测试及加速寿命测试方法。分析了半导体激光器的失效率函数、浴盆形失效率模式和寿命分布模式。通过研究LD参数与老化筛选的关系提出LD参数测试的方法。提出通过测量半导体激光器热阻参数进行可靠性筛选的方法，建立LD...
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