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一种测量焦平面探测器低温形变的方法及专用杜瓦

2008年 应用技术  中期阶段
  • 成果简介
本发明公开了一种测量焦平面探测器低温形变的方法及专用杜瓦，它是采用非接触式高度测试原理测量的，被测样品安装在液氮制冷的特制杜瓦内、被测样品自由状态的安装，避免了机械安装引入的外应力对低温形变的影响，使数据真实反映样品低温应变数据。特制的杜瓦有温度传感器监测，可实时监测被测样品的温度。采用的测试方法剔除了样品本身不平行度对形变结果的影响。本项发明的测试装置、测试方法及数据处理方法，解决了低温...
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