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聚四氟乙烯多孔薄膜驻极体的电荷储存稳定性

2002年 应用技术
  • 成果简介
利用在室温和高温下的栅控恒压电晕充电，常温电晕充电后经不同温度老化处理后的表面电位衰减测量，及开路热刺激放电（Thermally Stimulated discharge，TSD0研究了正负充电后PTFE（Polytetrafuoroethylene)多孔薄膜驻极体的电荷储存稳定性。PTFE多孔膜，PTFE非多孔膜（Teflon PTFE)和FEP（Tetrafluoroethylene-...
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