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用扫描隧道显微镜测量局域功函数的研究

2002年 应用技术
  • 成果简介
建立了一套用扫描隧道显微镜测量局域功函数的系统，并用它对金属样品表面的功函数进行了研究。在半导体Si表面制备了纳米级的金属薄膜，观察到了量子阱态的形成，并研究了量子阱态对功函数的影响，观察到了局域功函数随薄膜厚度的变化出现的振荡现象。我们发现量子阱态如果出现在费米面附件，会使薄膜的功函数降低，反之，则功函数升高。我们还制备了多种纳米结构，为进一步的研究奠定了基础。...
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