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压力下半导体异质结构中电子-声子相互作用及相关问题

2004年 应用技术
  • 成果简介
流体静力学压力可用来调制半导体材料的能带结构、介电常数、载流子的有效质量、晶格振动等物理参数，这将影响材料的光学和电学等物理性质。由于异质结构（如异质结、量子阱等）中界面的存在，其压力效应显得更为复杂且呈现出新的物理现象。本项目对流体静力学压力条件下半导体异质结构材料中的电子-声子相互作用及相关问题进行了系统的理论探讨。对Ⅲ-Ⅴ族材料计入压力效应，对Ⅱ-Ⅵ族材料计入压力调制应变效应，讨论了...
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