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工业数字射线成像检测最优透照参数系统建立方法

2007年 应用技术
  • 成果简介
本发明公开了一种工业数字射线成像检测最优透照参数系统建立方法。它解决了现有X-射线数字成像检测中最优系统透照参数系统建立方法的缺乏，导致不能正确进行工业数字射线成像检测等问题，提供了一种使工业数字射线成像检测具备一个可靠有效的最优参数选择系统。其方法为：
(1)确定待检测工件厚度；
(2)在成像系统上建立U(Kv)-d(mm)关系的曲线；
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