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一种分离式超大功率半导体列阵外腔形变补偿量半量获取技术

2007年 应用技术
  • 成果简介
本发明提供了一种超大功率半导体列阵中,克服外腔形变影响锁相质量,为避免降低锁相质量而补偿形变所需补偿量获取技术。与CCDl相关的一路测量外腔形变的子系统利用反射镜R2.1、反射镜、变焦光学器件、透镜,聚焦经外腔反射的一半He-Ne激光束成像于CCDl上,由处理器计算光斑质心、以及计算标定后的变化量,从而获取外腔镜一个方向的形变信息,并在其达到门限时,通过半量补偿量获取法获知补偿量,然后再配...
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