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集成电路高温动态老化多产品复用测试板

2007年 应用技术
  • 成果简介
本发明涉及集成电路的测试技术领域，具体涉及一种集成电路高温动态老化多产品复用测试板。其结构包括多个用于插接老化子板的接口插座以及与老化测试系统连接的测试通道电路，其中，根据每个接口插座上的信号pin的数量，将所有的接口插座分成若干组，同一组接口插座的同一根信号pin相互并联后，与测试板的一根信号通道连接，不同组接口插座的信号pin相互独立。本发明所提供的集成电路高温动态老化多产品复用测试板...
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