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内嵌非易失存储器的系统集成芯片的安全测试方法

2007年 应用技术
  • 成果简介
本发明公开了一种内嵌非易失存储器(NVM)的系统集成芯片(SOC)的安全测试方法,通过一个测试模式检测判断逻辑检测内嵌NVM特定地址上的数据来实现测试模式的切换,该内嵌NVM特定地址在用户模式下不可访问,当测试完成时,对内嵌NVM特定地址写入指定的模式设置数据,芯片的测试模式逻辑电路检测到该数据后,则立即将芯片切换到用户模式下,切断内部模块的测试通路,使芯片进入普通用户模式,从而实现内部电...
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