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测量双折射单轴晶体波片厚度的方法

2007年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
　　一种测量双折射单轴晶体波片厚度的方法和装置，该方法包括以下步骤：
　　1.将待测波片置于透射轴方向平行放置或正交放置的起偏器和检偏振的光路之中，构成一个“三明治”式结构；
　　2.转动待测波片的光轴方向与起偏器的透射轴夹角为3.14/4或3X3.14/4；
　　3.开启白光光源，出射的连续波长的平行光束依次通过限束光阑、起偏器、待测波片、检查器和分光镜后，经...
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