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基于电磁泄露旁路分析技术的加密芯片分析测试系统

2007年

应用技术

成熟应用阶段

成果简介

　　该系统的关键技术是：提高截获信号的精度；保障集成电路芯片电磁泄漏旁路攻击模型的攻击效果；有效地识别密码信号和信息的特征值。通过自主开发实现了DEMA软件仿真工具以及加密芯片DEMA测试评估平台。系统的创新点体现在以下方面：
　　a.将物理观测密码术模型中的“泄露函数”完全在电磁泄露环境下进行表达，是“泄露函数”针对电磁分析攻击的首次实例化。
　　b.从信息论的角度对电磁...

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