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LEM-1非接触式光电跟踪测头

2007年 应用技术
  • 成果简介
　　1、概述：
　　近两年我室成功研制的LEM-1非接触式光电跟踪测头采用半光斑成像原理，以半导体激光器作为光源，集激光技术、光电子技术、光学技术和机械技术于一体，配合三坐标测量机可以完成自由曲面的非接触跟踪测量。
2、性能指标：
测量不确定度：≤±1μtm
测量范围：040mm
脉冲信号输出
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