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高双折射保偏光纤分布式偏振耦合测试仪

2007年 应用技术
  • 成果简介
成果与项目的背景及主要用途：保偏光纤是光纤陀螺等偏振敏感器件的重要组成部分，其制造、缠绕工艺将直接影响器件的输出精度；采用白光干涉技术对高双折射保偏光纤因内外部结构缺陷造成的分布式偏振模式耦合进行理论分析和定量检测。并以此作为评价保偏光纤及其器件的一种客观参数。该研究可广泛应用于分布式光纤应力传感器及检测保偏光纤内部的缺陷，提高我国自主研制高质量保偏光纤的能力，并带动光纤传感业的发展。 <...
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