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氧化锌压敏电阻老化性能及老化机理研究

2004年 应用技术
  • 成果简介
该成果研究氧化锌压敏电阻的电老化性能及老化机理。指出在交流、直流、可控硅整流电压状态下如何确定静态工作点的原则；研究了在交流、直流、可控硅整流电压及脉冲电压等状况下的老化规律，提出了新的老化机理——线性链理论，从而发展和完善了已有的离子迁移理论。线性链理论认为，老化过程是压敏链形成线性链的过程。本文在大量实验的基础上，从理论上比较系统地分析了高能ZnO压敏电阻的老化性能和老化机理，找出了产品在实验...
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