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真空中绝缘子沿面闪络发展过程的研究

2003年 基础理论
  • 成果简介
本课题有两个来源：一个是国家自然基金资助项目“绝缘子在真空中的沿面闪络机理的研究”（基金编号：59677015），另一个是自选项目“真空中绝缘子表面放电过程的研究”。
真空中的绝缘子沿面闪络会使整个真空系统的绝缘强度大大降低，使很多真空器件及大型尖端设备（例如：X射线管，高功率微波管，脉冲功率开关，高能粒子加速器等）不能正常运行。50年代人们发现了这个问题，从70年代开...
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