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VLSI与电子系统的层次化可测性设计

2001年 应用技术
  • 成果简介
VLSI与电子系统的层次化可测性设计属于电子信息学科微电子技术领域。该项目研究集成电路芯片和电子系统的可测性设计,适用于大规模、超大规模集成电路和电子系统的自动化设计与测试范围。其主要内容:1.层次化的可测性设计体系结构:该研究在常规设计的基础上,通过增加辅助测试电路,使超大规模集成电路及电子系统实现自顶向下的逐级自测试。其创新点是扩充了IEEE1149.1国际标准,使它适用于系统级的自测试。2....
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