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Intel80C31辐射效应测试系统

2006年 应用技术  成熟应用阶段
  • 成果简介
　　“Intel80C31辐射效应测试系统”课题教育厅立项，由兰州工业高等专科学校承担科技攻关项目。此项目已完成，由省教育厅组织鉴定。
本系统主要应用于在实验室模拟真空辐射环境下对80C31微处理器进行重离子辐照效应（单粒子翻转、单粒子锁定、单粒子烧毁、以及单粒子击穿等）的模拟研究，为卫星器件的选型，对卫星抗辐射进行加固，以及对星载计算机系统的抗辐射设计提供重要的依据。
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