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3至5微米红外小光点焦平面测试系统

1995年 应用技术
  • 成果简介
该系统可用于判断红外焦平面器件的工作状态，测试光串音、光响应均匀性及转移效率等重要性能参数。为红外焦平面和其他红外器件的性能评价，提供了有力的手段。建立该系统涉及红外光学、低温致冷、精密机械、半导体光电器件及电子计算机等技术，而且要求高，难度很大。系统的主要性能指标：红外光斑直径为17±3μm（波长3.39μm），微动台定位误差小于2μm，冷头温漂小于正负0.2K（在80～85K）。...
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