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集成电路统计优化技术的研究

1994年 应用技术
  • 成果简介
  该成果是在理论研究的基础上,实现了以集成电路工艺控制参数和器件尺寸为设计变量,以集成电路合格率为设计目的的统计化系统(YOSIC)。系统包括:版图电路提取器、工艺/器件模拟器、电路模拟器、统计优化软件包和工艺/器件调谐器等几个主要模块。可用于集成电路设计开发的各个领域:如IC器件模型参数及统计分布规律的获取、IC制造工艺设计、IC单元电路的统计优化设计、IC生产工艺控制、工艺诊断、最坏条件设计...
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