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TCM-1型温差电致冷组件△TQ参数测试仪

1994年 应用技术
  • 成果简介
  该仪器是在高真空中应用计算机控制来测量半导体致冷组件的最大温差△T和致冷量Q的自动测试系统。它测试精度高、速度快、功能强,具有显著的经济效益与社会效益。该仪器重点解决了高精度高可靠的电控系统、数学模型、高真空系统、夹具等技术关键。其真空系统真空度为10^(-4)~10^(-2)Pa,控温范围为20~80℃,控制精度≤±0.5℃,测温范围为-80~80℃,系统测量精度≤±0.5%,有打印、报警、...
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