首页成果登记
注册 找回密码
国家科技成果网
  		•
热门搜索：  激光   高分子   石油   并网   纳米   太阳能光伏
扫描二维码关注国科网

登记 排行 政策 对接 转化 专栏
国家科技成果网 › 首页 ›成果 › 查看内容

同步通讯芯片进行多芯片并行测试的方法

2007年 应用技术
  • 成果简介
本发明公开了一种同步通讯芯片进行多芯片并行测试的方法，首先，将双向移位寄存器连接到测试仪的一个测试通道上，将测试仪的一个测试通道上的数据，通过串转并的方法输入到所有被测器件上；然后，通过移位寄存器将多个被测器件上输出的数据通过并转串的方法输入到测试仪的一个测试通道上；最后测试仪通过对读入的数据进行数据处理得到各个被测器件的合格/故障结果。本发明可以提高被测芯片的测试效率，降低测试时间与成本...
相关成果

标签云

相关机构

关于国科网   我们的资源   我们的服务   免责声明   常见问题    软件下载    成果登记   联系我们  
Copyright 2001-2020 All Rights Reserved© 国科网 版权所有
国家科技成果信息服务平台 主管单位：科学技术部火炬高技术产业开发中心
京ICP备09035943号-33 京公网安备110401400097
在线客服系统